DVC20XX系列產(chǎn)品內(nèi)部包含了AFE和 8 位 MCU 核心。是基于DVC10XX系列系統(tǒng)化、平臺(tái)化的產(chǎn)品迭代和技術(shù)創(chuàng)新。產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性及在不同工業(yè)應(yīng)用環(huán)境下的性能表現(xiàn),均達(dá)到非常嚴(yán)苛的指標(biāo)性要求,充分滿足工業(yè)客戶的差異化應(yīng)用需求。
芯片型號(hào) | 電池節(jié)數(shù) | 外部測(cè)溫通道數(shù) | 集成MCU | ADC特性 | 硬件保護(hù) | 充放電驅(qū)動(dòng) | 通信接口 | 其他特色 | 封裝類型 |
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DVC2006H-1 | 3~6 | 1 | 增強(qiáng)型1T 8051內(nèi)核; 16K Flash; 1K SRAM | 15位ΣΔADC電壓溫度采集 | 均衡/過(guò)壓/欠壓/內(nèi)核過(guò)溫 | 低邊驅(qū)動(dòng) NMOS | SPI | 負(fù)載檢測(cè)、WKUP按鍵喚醒 | LQFP48 |
DVC2006H-2 | 3~6 | 1 | 增強(qiáng)型1T 8051內(nèi)核; 16KB Flash; 1KB SRAM | 15位ΣΔADC電壓溫度采集 16位ΣΔADC電流采集 | 均衡/過(guò)壓/欠壓/短路/充放電過(guò)流/內(nèi)核過(guò)溫 | 低邊驅(qū)動(dòng) NMOS | SPI | 負(fù)載檢測(cè)、WKUP按鍵喚醒 | LQFP48 |
DVC2006P8-1 | 3~6 | 1 | ARM CORTEX M0+內(nèi)核; 64KB Flash; 8KB SRAM | 15位ΣΔADC電壓溫度采集 | 均衡/過(guò)壓/欠壓/內(nèi)核過(guò)溫 | 低邊驅(qū)動(dòng) NMOS | SPI | 負(fù)載檢測(cè)、WKUP按鍵喚醒 | LQFP48/QFN40 |
DVC2006P8-2 | 3~6 | 1 | ARM CORTEX M0+內(nèi)核; 64KB Flash; 8KB SRAM | 15位ΣΔADC電壓溫度采集 16位ΣΔADC電流采集 | 均衡/過(guò)壓/欠壓/短路/充放電過(guò)流/內(nèi)核過(guò)溫 | 低邊驅(qū)動(dòng) NMOS | SPI | 負(fù)載檢測(cè)、WKUP按鍵喚醒 | LQFP48 |
DVC2010H-1 | 6-10 | 2 | 增強(qiáng)型1T 8051內(nèi)核;16K Flash; 1K SRAM | 15位ΣAADC電壓溫度采集 | 均衡/過(guò)壓/欠壓/內(nèi)核過(guò)溫 | 低邊驅(qū)動(dòng) NMOS | SPI | 負(fù)載檢測(cè)、 WKUP按鍵喚醒 | LQFP 48 |
DVC2010H-2 | 6-10 | 2 | 增強(qiáng)型1T 8051內(nèi)核;16K Flash; 1K SRAM | 15位ΣAADC電壓溫度采集16位 ΣAADC電流采集 | 均衡/過(guò)壓/欠壓/短路/充放 電過(guò)流/內(nèi)核過(guò)溫 | 低邊驅(qū)動(dòng) NMOS | SPI | 負(fù)載檢測(cè)、 WKUP按鍵喚醒 | LQFP48 |
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